国产午夜一级99热这里只有精品论坛_亚洲日韩精品国产一区二区三区_欧美在线亚洲一区二区欧美_欧美视频偷拍一区二区三区_国产精品麻豆系列_欧美一级A√在线观看_青青国产成人免费精品视频_国产噢日本欧美在线视频_办公室浪荡女秘h文_成人三级片在线免费观看

您好！歡迎訪(fǎng)問(wèn)安徽智微科技有限公司網(wǎng)站！
全國(guó)服務(wù)咨詢(xún)熱線(xiàn):

13951825145

當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 芯片表征設(shè)備 > 膜厚測(cè)量?jī)x
  • 薄膜測(cè)厚儀
    薄膜測(cè)厚儀

    更新時(shí)間：2024-06-04

    型號(hào)：

    瀏覽量：3274

    薄膜測(cè)厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測(cè)量，具有非接觸、無(wú)破壞、快速等特點(diǎn)，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺(tái)配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測(cè)量。
    了解詳情
共 1 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉(zhuǎn)到第頁(yè) 
安徽智微科技有限公司
地址：安徽省合肥市經(jīng)開(kāi)區(qū)尚澤大都會(huì)A座2214
郵箱：1053185136@qq.com
傳真：
關(guān)注我們
歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號(hào)了解更多信息：
歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號(hào)
了解更多信息